X射線熒光光譜儀(XRF)是一種用于快速、無損分析材料元素組成及含量的精密分析儀器,廣泛應用于地質礦產、冶金、環境監測、石油化工、電子電器、建筑材料、考古及RoHS合規檢測等領域。其工作原理基于X射線激發樣品中原子產生特征熒光輻射,通過檢測不同元素發出的特征X射線能量或波長,實現定性與定量分析。
該儀器具有無需復雜前處理、分析速度快(數秒至數分鐘)、樣品無損、可測固體/液體/粉末等多種形態等優點。在RoHS指令檢測中,XRF被廣泛用于篩查電子產品中的有害元素(如Pb、Cd、Hg、Cr??、Br等);在金屬冶煉中用于合金成分快速判定;在土壤和水質分析中用于重金屬污染評估。
X射線熒光光譜儀(XRF)通過X射線激發樣品中的原子產生熒光,進而分析元素組成和含量,其使用細節涵蓋環境準備、安全防護、操作流程、樣品處理、數據分析及維護保養等方面,具體如下:
一、環境準備
溫濕度控制
實驗室溫度建議保持在10-30℃,濕度控制在40-70%,避免儀器內部結露或元件受潮。
確保操作臺面平穩,遠離振動源,以減少測量誤差。
通風與電磁屏蔽
實驗室需具備良好的通風條件,防止X射線泄漏。
避免強電磁干擾,如大型電機、高頻設備等,確保儀器信號穩定性。
二、安全防護
輻射防護
X射線具有輻射性,操作前需確保所有人員接受安全培訓,穿戴鉛眼鏡、防護服等個人防護裝備。
在儀器周圍設置明顯的輻射警示標識,并劃定控制區(輻射劑量<2.5μSv/h)和監督區(輻射劑量<0.5μSv/h)。
操作人員需配備個人TLD劑量計,并建立年度累積劑量檔案,遵循ALARA原則(合理可行z低輻射)。
液氮操作安全
若儀器使用液氮冷卻檢測器,需佩戴防凍手套和護目鏡,防止凍傷。
添加液氮時,用漏斗緩慢倒入,避免飛濺,且液氮罐內殘留液氮需揮發完q后再添加。
三、操作流程
開機與預熱
檢查儀器外觀是否完好,各部件連接是否緊密,確保電源、冷卻系統、計算機接口等連接穩固。
依次打開UPS電源、變壓器電源、主機及計算機,啟動控制軟件(如SPECTRAplus、M4 Tornado等)。
等待儀器自檢完成,確認光管、探測器、真空系統等初始狀態正常。
預熱時間一般為5-15分鐘(具體時間取決于儀器型號和環境溫度),使儀器達到穩定工作狀態。
樣品加載與測量
樣品準備:
固體樣品:表面需光滑平整,避免塵埃、油污或氧化層。必要時用碳化鎢研磨至表面粗糙度Ra<0.8μm。
粉末樣品:采用硼酸鑲邊壓片法,壓力>20T,保壓120秒,確保壓片無氣孔。粉末粒度需<75μm,以減少顆粒效應對檢測結果的影響。
液體樣品:使用專用聚乙烯杯配合6μm聚酯膜密封,防止揮發或泄漏。確保樣品無氣泡,且密封良好以避免真空環境下泄漏。
樣品放置:將制備好的樣品放入樣品托盤或自動進樣器中,調整位置使待測區域位于檢測窗口中心,關閉樣品室門。
參數設置:根據樣品性質和分析需求,設置測量模式(定性/定量分析)、管電壓(通常為15-50kV)、管電流(1-1000μA)等參數。調整光斑尺寸、準直器角度以及測量時間(單點掃描時間可設為7-10ms)。
開始測量:點擊“開始測量”按鈕,儀器自動掃描樣品并記錄熒光光譜數據。測量過程中,避免移動樣品或儀器,防止數據失真。
數據分析與結果輸出
定性分析:通過譜圖匹配識別元素峰,結合莫塞萊定律(√(1/λ)=k(Z−σ))確認元素種類。使用FP法(基本參數法)或經驗系數法解譜,計算元素含量百分比。
定量分析:根據分析元素種類,選用與樣品基體匹配的標準樣品(如NIST SRM 610玻璃標樣)進行校準。導入或創建適合樣品的校準曲線,確保定量分析的準確性。
結果輸出:將測量結果以文本、圖表或數據庫的形式輸出,便于對樣品的成分進行分析和研究。
四、維護保養
日常清潔
定期清理儀器外表,避免灰塵和污物積存。清潔樣品托盤和表面,確保無殘留物影響下次使用。
對于采用真空系統的XRF,要定期檢查真空泵的工作狀態,確保真空度符合要求。如有必要,更換真空泵油。
定期校準與驗證
能量校準:每日開機后執行,使用標準樣品(如Cu-Kα:8.04keV,Ag-Kα:22.1keV)校準儀器能量刻度。
定量校準:根據分析元素種類,選用與樣品基體匹配的標準樣品進行校準。
重復性測試:每季度進行重復性測試(RSD<1.5%),評估儀器精密度。
部件檢查與更換
定期檢查X射線管的窗口是否清潔、有無損壞。在使用過程中,注意控制管電壓和管電流,避免長時間高負荷運行,以延長X射線管的使用壽命。
探測器是XRF的核心部件,要特別注意保護。避免探測器受到撞擊、污染等損害。定期對探測器進行清潔和校準,確保其性能穩定。
定期檢查真空封擋、光管狀態和粉塵收集器,確保儀器長期穩定運行。更換易損件(如電池、濾光片),確保儀器正常運行。
軟件與數據管理
定期更新儀器軟件,以獲得更好的性能和更多功能。
定期備份儀器數據和設置,以防意外丟失。
